분석장비

주사전자현미경 (SEM)

주사전자현미경 (SEM)


우수한 성능을 가지고 있으며 빠른 A/S 및 고객 대응이 가능한 국산 주사전자현미경.



특징


미국, 일본, 유럽으로 수출하는 우수한 성능의 국산 주사전자현미경 (SEM)입니다.

주사전자현미경 자유배율 조정방법 외 9개의 국내 특허를 보유하고 있으며,

SEM 장비 최초로 길이 측정에 대한 KOLAS 인증을 획득한 제품입니다.

 

GM코리아, 삼성전자, LG화학 등의 산업체 뿐 아니라 대학교 실험실 및 국가 연구소에

납품을 하고 있으며, 국내 최고 수준의 교육 서비스와 C/S 서비스를 지원하고 있습니다.

 

 

Technical Data

 

 

모델명

특징

Mini SEM

EM-30

 •저렴한 비용으로 나노세계를 관찰

 •20~100,000배까지 측정

 •5만배의 유효배율

 •5nm resolution

 •45˚ 각도의Tilt 기능제공

 •X, Y, T축의Auto Stage 시스템

 •소프트웨어Auto Focus 기능 제공

 •평생 무상 원격지원 서비스 제공

 •화면의 Click만으로 시료의 위치 이동

 •마우스휠로 Zoom in & out 배율 조절

 •최대 5120ˣ3840 pixel의고품질 이미지 지원

EM-30 Plus

 EM-30 기능외

 •20~150,000배까지측정

 •8만배의 유효배율

 •5nm resolution

 •SE+BSE Detector Dual 장착

 •Joystick으로도operating 가능

Normal SEM

CX-200TA

 •15~300,000배까지 측정

 •10만배의 유효배율

 •3nm resolution

 •-20 ~ 90˚ 각도의Tilt 기능 제공

 •5(X, Y, Z, T, R) Auto-Stage 시스템

 •화면의 Click만으로 시료의 위치 이동

 •마우스휠로 Zoom in & out 배율 조절

 •최대 5120ˣ3840pixel의 고품질 이미지

 •소프트웨어 Auto Focus 기능 제공

 •평생 무상 원격지원 서비스 제공

 •소프트웨어 자동 촬영기능 제공


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