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주사전자현미경 (SEM)
 
 
 
 
제품상세설명
Coxem "Scanning electron microscope"
미국, 일본, 유럽으로 수출하는 우수한 성능의 국산 주사전자현미경 (SEM)입니다.
주사전자현미경 자유배율 조정방법 외 9개의 국내 특허를 보유하고 있으며,
SEM 장비 최초로 길이 측정에 대한 KOLAS 인증을 획득한 제품입니다.
GM코리아, 삼성전자, LG화학 등의 산업체 뿐 아니라 대학교 실험실 및 국가 연구소에

납품을 하고 있으며, 국내 최고 수준의 교육 서비스와 C/S 서비스를 지원하고 있습니다.


 

모델명

특징

Mini SEM

EM-30

•저렴한 비용으로 나노세계를 관찰
•20~100,000배까지 측정
•5만배의 유효배율
•5nm의 resolution
•45˚ 각도의Tilt 기능제공
•X, Y, T축의Auto Stage 시스템
•소프트웨어Auto Focus 기능 제공
•평생 무상 원격지원 서비스 제공
•화면의 Click만으로 시료의 위치 이동
•마우스휠로 Zoom in & out 배율 조절
•최대 5120ˣ3840 pixel의고품질 이미지 지원

EM-30 Plus

EM-30 기능외…
•20~150,000배까지측정
•8만배의 유효배율
•5nm의 resolution
•SE+BSE Detector Dual 장착
•Joystick으로도operating 가능

Normal SEM

CX-200TA

•15~300,000배까지 측정
•10만배의 유효배율
•3nm의 resolution
•-20 ~ 90˚ 각도의Tilt 기능 제공
•5축(X, Y, Z, T, R) Auto-Stage 시스템
•화면의 Click만으로 시료의 위치 이동
•마우스휠로 Zoom in & out 배율 조절
•최대 5120ˣ3840pixel의 고품질 이미지
•소프트웨어 Auto Focus 기능 제공
•평생 무상 원격지원 서비스 제공
•소프트웨어 자동 촬영기능 제공